Kalitate handiko SWCNT DWCNT MWCNT Karbonozko nanohodiak
Horma bakarreko CNT, SWCNT hautsa: D: 2nm L: 1-2um / 5-20um
Horma bikoitzeko CNT, DWCNT hautsa: D: 2-5nm L: 1-2um / 5-20um
Horma anitzeko CNT, MWCNT hautsa:
D: 10-30nm / 30-60nm / 60-100nm
L: 1-2um / 5-20um
Pertsonalizatu zerbitzua: COOH funtzionalizatua;OH Funtzionatua;Uraren sakabanaketa;Petrolioaren dispertsioak;Nikelez estalitako karbono nanohodiak
| Jabetza | Unitatea | DWCNTak | Neurtzeko metodoa | |||||
| OD | nm | 2-4 | 2-4 | 2-4 | HRTEM, Raman | |||
| Garbitasuna | % pisua | >60 | >60 | >60 | TGA & TEM | |||
| Luzera | mikra | ~50 | ~50 | ~50 | TEM | |||
| SSA | m2/g | > 340 | >350 | >350 | APOSTUA | |||
| ERRUGARRA | % pisua | <5 | <5 | <5 | TGA | |||
| Ig/Id | -- | -- | -- | -- | Raman | |||
| -OH Edukia | % pisua | 2.92 | XPS eta Titulazioa | |||||
| -COOH edukia | % pisua | 2.58 | XPS eta Titulazioa | |||||
| OD=Kanpoko Diametroa SSA=Azalera Espezifikoa | ||||||||
| Jabetza | Unitatea | Luzera Laburreko SWCNTak | Neurtzeko metodoa | ||
| OD | nm | 1-2 | 1-2 | 1-2 | HRTEM, Raman |
| Garbitasuna | % pisua | >90 | >90 | >90 | TGA & TEM |
| Luzera | mikra | 1-3 | 1-3 | 1-3 | TEM |
| SSA | m2/g | > 340 | >380 | >380 | APOSTUA |
| ERRUGARRA | % pisua | <5 | <5 | <5 | HRTEM,TGA |
| Ig/Id | -- | >9 | >9 | >9 | Raman |
| -OH funtzionalizatua | % pisua | 3.96 | XPS eta Titulazioa | ||
| -COOH funtzionalizatua | % pisua | 2.73 | XPS eta Titulazioa | ||
| OD=Outer Diameter ID=Barruko Diametroa SSA=Azalera Espezifikoa | |||||
Idatzi zure mezua hemen eta bidali iezaguzu
